熱門詞: 進(jìn)口電動(dòng)溫度調(diào)節(jié)閥結(jié)構(gòu)圖|進(jìn)口電動(dòng)溫度調(diào)節(jié)閥數(shù)據(jù)表進(jìn)口電動(dòng)高溫調(diào)節(jié)閥-德國進(jìn)口電動(dòng)高溫法蘭調(diào)節(jié)閥進(jìn)口電動(dòng)蒸汽調(diào)節(jié)閥-德國進(jìn)口電動(dòng)蒸汽調(diào)節(jié)閥
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價(jià) 格:詢價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-01-18 15:16
品 牌:型 號(hào): NanoWizard®
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1810
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儀器簡介:德***JPK公司(www.jpk.com)生產(chǎn)的NanoWizard?原子力顯微鏡專注于軟物質(zhì)與生物科學(xué)領(lǐng)域的,高解析成像,其度獨(dú)特的設(shè)計(jì)方式提供了從微觀光學(xué)顯微鏡觀測到納米尺度高清晰成像的完美銜接,同時(shí)與傳統(tǒng)設(shè)計(jì)方法不同的是JPK公司的設(shè)計(jì)方式使得光學(xué)顯微鏡觀測性能與原子力顯微鏡的測量性能都不受影響,使得高分辨、原位、動(dòng)態(tài)的原子力成像研究更加便捷。NanoWizard?原子力顯微鏡可實(shí)現(xiàn)高清晰的大氣或溶液相成像、進(jìn)行單分子或者細(xì)胞的拉力實(shí)驗(yàn)、進(jìn)行精確的納米操控與刻蝕。100×100×15微米的掃描范圍適用于生物細(xì)胞等大體積的樣品,且平板掃描器規(guī)避了管式掃描器的缺點(diǎn),采用電容式位置傳感器實(shí)現(xiàn)xy平面精確的定位。掃描器的設(shè)計(jì)方式兼容所有的顯微鏡的工作模式,如亮場、暗場、熒光等。采用探針掃描方式與防水設(shè)計(jì),保證了在實(shí)驗(yàn)過程中壓電陶瓷的安全。人性化的軟件設(shè)計(jì)使得操作更加方便、快捷、準(zhǔn)確,且可通過腳本實(shí)現(xiàn)特定的實(shí)驗(yàn)需要。技術(shù)參數(shù):1. 采用PI平板壓電掃描器,無管式壓電管的bow效應(yīng),能同時(shí)進(jìn)行光學(xué)顯微鏡與原子力顯微鏡量測2. 掃描范圍:100×100×15微米(閉環(huán))3. 探針掃描設(shè)計(jì),液相量測情況下不會(huì)損壞壓電陶瓷4. 分辨率:云母晶格圖像(接觸模式、高解析模式)5. 針尖定位噪聲水平(RMS) 大氣條件下:垂直方向小于0.08nm,水平方向小于1nm(閉環(huán)); 液相條件下:懸臂偏移小于0.3nm(彈性系數(shù)0.03N/m,溫度20攝氏度)6. 的電容式探針位置傳感器,全程xy掃描線性化達(dá)0.03%,保證探針的重復(fù)定位與長時(shí)間穩(wěn)定定位7. 智能馬達(dá)進(jìn)針,漂移跟蹤設(shè)計(jì)消除樣品加熱膨脹的影響8. xyz三軸掃描方向硬件線性化設(shè)計(jì)提供了高端的量測性能9. 采用850nm波長激光源,不會(huì)影響匹配倒置光鏡的光學(xué)量測10. 探針彈性系數(shù)的熱噪聲方法自動(dòng)校正主要特點(diǎn):工作模式1. 包括接觸、側(cè)向力、動(dòng)態(tài)模式如間歇式接觸模式、非接觸模式、相差、拉力力譜、力成像、導(dǎo)電AFM等所有AFM標(biāo)準(zhǔn)模式,亦能進(jìn)行納米刻蝕、納米操控,細(xì)胞與基底或者細(xì)胞間相互作用力譜實(shí)驗(yàn)2. 所有操作可在特定氣體、大氣和液相(如生理緩沖液等)3. 化學(xué)穩(wěn)定的探針夾具,由石英玻璃與鍍金的不銹鋼彈性片組成,夾具可進(jìn)行超聲、表面活性劑、酸以及溶劑超聲清洗4. 的拉力力譜設(shè)計(jì),可用于單分子、生物膜、黏附與彈性量測等研究5. 量測中可在100微米×100微米進(jìn)行掃描范圍的快速任意選取6. 可擴(kuò)展成100微米長程z軸(CellHesion Development Kit)用于細(xì)胞黏附的研究,以及針尖增強(qiáng)光譜(TAO Module,原子力-光學(xué)聯(lián)用系統(tǒng))7. QI?(Quantitative Imaging) mode (http://www.jpk.com/qi-mode-overview.662.en.html)光學(xué)性能1. 所有主流研究***倒置光學(xué)顯微鏡(Zeiss、Olympus、Leica、Nikon)可匹配JPK掃描頭2. 與AFM匹配的光學(xué)性能如亮場、暗場、相差、熒光、DIC、CLSM、TIRF、FRET等所有使用功能不會(huì)降低、同時(shí)AFM性能亦可完全使用樣品臺(tái)1. 穩(wěn)定的機(jī)械設(shè)計(jì)方式承載掃描樣品與AFM掃描頭2. 樣品尺寸:直徑14cm,高2cm生物型 適用于倒置光鏡的透光照明模式(相差、DIC等) 適用于標(biāo)準(zhǔn)載具如培養(yǎng)皿(至55mm)、載玻片、蓋玻片等 適用于高NA值的物鏡標(biāo)準(zhǔn)型 對(duì)于非透明樣品可使用正置蔡司熒光顯微鏡 適用于標(biāo)準(zhǔn)載具如培養(yǎng)皿(至75mm直徑)、載玻片等 足夠空間放置JPK或客戶自制液相池 樣品磁性固定環(huán)境控制配件可供選擇可根據(jù)用戶需要配置手套箱部分客戶發(fā)表的papers:http://www.jpk.com/index.422.en.html
拉曼原子力顯微鏡系統(tǒng)
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日本RIBM原子力顯微鏡
日本RIBM 超高速視頻級(jí)原子力顯微鏡
不溶性微粒顯微計(jì)數(shù)法 不溶性微粒顯微鏡法 顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒檢測
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